Одна из основ проверки качества всей микроэлектроники - тестовые щупы для тестирования микросхем, печатных плат (ICT+FT) и кабельных жгутов и тестовые пробники в качестве зарядных контактов для промышленных применений или разъемы для печатных плат - в виде одноконтактного или многополюсного контактного блока.
Претензионное производство микроэлектроники нуждается в тестирование. И для этого применяют тестовые контакты, которые высоко востребованы в таких отраслях, как телекоммуникация, медицинская техника, авиация и космонавтика, автомобильная промышленность и многие другие. Подпружиненные тестовые щупы используются в качестве тестирования печатных плат, микросхем и кабельных жгутов, а также в изготовлении кастомизированных разъемов.
Дополнительной и постоянно растущей областью применения является использование пружинных контактов в качестве зарядных пин контактов (контакты для аккумуляторов, электрошокеров, принтеров и т.п. подпружиненные контакты типа pogo pin) для промышленных применений или разъемов печатных плат в качестве одно контактного или многополюсного контактного блока.
Совместно с тестовыми щупами для многоразового использования тест модуля или тестового адаптера (модуля) применяются соединительные гильзы (гнездо для усадки тестового щупа).
