Внутрисхемные тестовые щупы

PTR HARTMANN предлагает пробники для внутрисхемного тестирования (ICT testing) площадок от 1.02 мм – 2.54 мм с острым типом наконечника и давлением прижима до 4.0N. Серия HPL (high pre-load) со значительно увеличенным предварительным усилием нажатия идеально подходит для проникновения в окисленные и толстые остатки слоев. Этот ассортимент дополняют вращающиеся пробники и некоторые версии для тестеров с летающими пробниками.